技术文章_第(11)页－苏州英飞思科学仪器有限公司

2023-11-20

随着环境保护意识的提高，对电子产品中有害物质的限制也日益严格。在这个背景下，RoHS光谱仪应运而生，成为环保合规的重要工具。它是一种先进的仪器设备，用于检测电子产品中是否含有禁用物质。通过其高精度的光谱分析技术，可以快速准确地识别出危害环境和人体健康的物质，如铅、汞、镉等。正确的...

2022
11-17

XRF能量色散RoHS分析仪应用介绍 RoHS分析仪EDX8000B能量色散XRF‍从技术角度讲,完整的RoHS的解决方案应该是XRF(X射线荧光光谱仪)、ICP(电感耦合等离子发射光谱)再加上GC-MS(气相色谱和质谱连用)和紫外分光光度计等。但在实际应用中,X射线光谱现场分析方法的样品制备简单,能非破坏性地快速进行多元素分析,可以迅速筛查多种类样品基质如液体、固体、泥浆、粉末、糊状物、薄膜、空气过滤物以及其他很多基质样品中的未知成分。对于最新一代X射线荧光ROHS分析仪EDX8000B而言,其配备了SDD检测...
2022
11-17

便携式矿石分析仪真空型矿石成分分析光谱仪的应用介绍便携式矿石分析仪Compass-300真空型矿石成分分析光谱仪‍X射线光谱现场分析技术是采用现场X射线光谱仪在采样现场对待测目标体中元素进行快速地定性和定量分析技术,又称为现场X射线荧光矿石分析仪。根据现场分析的应用场景与采样方法,X射线光谱现场分析可分为X射线光谱现场原位分析和X射线光谱现场取样分析。现场原位分析是指将X射线光谱分析仪的探测窗直接置于岩(矿)石露头或土壤或其他待测物料的表面,在现场原生条件下获取待测目标体中元素种类和元素含量的分析方法;现场取样分析是指对待测...
2022
11-17

XRF矿石分析仪测试萤石中 CaF2、SiO2、Fe2O3和 S成分‍ EDX9000Bplus矿石分析仪测试萤石中CaF2、SiO2、Fe2O3和S成分‍萤石（Fluorite或Fluorspar或Fluor），又称氟石、砩石，是一种矿物，其主要成分是氟化钙（CaF2），含杂质较多。其中的钙常被钇和铈等稀土元素替代，此外还含有少量的Fe2O3、SiO2和微量的Cl、O3和He等。自然界中的萤石常显鲜艳的颜色，硬度比小刀低[1]。萤石可以用于制备氟化氢：CaF2+H2SO4→CaSO4+2HF[2]；它的色散极低，对红外线、紫外线的透过性能高，适...
2022
11-17

XRF镀层测厚膜厚仪应用介绍 RF镀层测厚仪EDX-8000B涂层膜厚仪使用XRF进行涂层测量的好处准确的厚度测量有助于制造商提供优质产品，同时控制成本。涂层的厚度应与完成工作所需的一样厚；制造涂层太厚的产品会增加制造成本。客户还通过确保他们收到的材料涂有正确的材料和正确的厚度来测量涂层，以对进料进行质量控制。使用快速、高效且无损的工具有助于在产品线和现场进行质量控制。一台EDX8000测厚仪可以在短短10秒内提供测试结果，并且可以通过单点校准镜头来完善结果，只需30秒即可完成。EDX8000膜厚仪也不会...
2022
11-16

XRF荧光光谱仪合金分析仪在锌合金分析中的应用 XRF荧光光谱EDX9000A‍合金分析仪在锌合金分析中的应用EDX9000A合金分析仪配备一个含35种以上元素的标准包，在几秒钟内可生成合金的化学成分和牌号信息。从简单的分拣到具有挑战性的牌号区分，合金分析光谱仪EDX9000A都会提供高度精细的材料化学成分，以快速准确地辨别纯金属和合金牌号。这些金属和合金包含但不限于以下所列项目：铝合金贵金属铬钼钢不锈钢钴合金工具钢铜合金钛合金异常合金锻铝合金镁合金锌合金镍合金锆合金镍/钴合金本案我们在X射线能量色散荧光光谱分析(XRF)...
2022
11-16

XRF合金分析仪用溶片玻璃法分析锰铁锰硅和金属锰 XRF熔片玻璃法分析锰铁,锰硅合金和金属锰---EDX9000A合金分析仪硅铁和硅锰合金是钢铁冶炼主要的添加剂和脱氧剂，准确的测定其中各个元素是十分必要的。作为合金分析通常采用化学分析方法测定主量元素硅和锰，采用ICP原子发射光谱仪测定其中的各杂质元素，就其方法而言化学分析方法耗时较长，操作繁复，ICP分析时间长，而且需要进行试样分解。通过大量的实验研究确定了试样粒度、样环的材质、样片的制备方法、测定条件等采用XRF熔片法测定硅铁和硅锰合金，可以直接玻璃熔片法，同时进行主量元...
2022
11-16

XRF镀层测厚仪在金属镀层定量定性分析中的应用 XRF荧光膜厚仪镀层测厚仪EDX8000B在金属镀层定性和定量分析中的应用‍X射线荧光光谱(XRF)镀层测厚仪EDX8000B广泛应用于在镀层中的定性和定量分析。我们对检测步骤进行了测量和优化.该方法采用每个元素*的特征X射线来确定是否沉积上某种元素;利用FP法快速测定一组在不同浓度的电解液中电沉积所得镀层中的铜元素含量,结果表明该方法可以快速测定镀层中元素含量的变化,该方法具有测试准,投入少,易掌握,速度快等特点X-RAY测厚仪EDX8000B的基本原理X射线广泛用于各种无...

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