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XR光谱仪用于测量水泥中的关键元素并满足ASTM C114精度要求

更新时间:2023-02-16      点击次数:439

XRF光谱水泥分析仪EDX9000B plus用于测量水泥中的关键元素并满足ASTM C114精度要求


水泥生产商必须保持生产流程准确、高效运行,从而确保他们的客户获得适合特定应用的优质材料。X 射线荧光 (XRF) 光谱法最重要的应用之一是在生产环境中分析水泥。毫无疑问,用于评估用于分析水泥的 XRF 仪器(和其他分析技术)性能的广泛使用的标准测试方法是 ASTM C-114,水硬性水泥化学分析的标准测试方法。

我们进行了一项研究,以确认水泥分析仪EDX9000B plus 仪器可以满足标准ASTM C-114对水泥分析的要求,同时在不牺牲性能的情况下缩短分析时间。

仪器测量参数设定

所测试的水泥分析仪EDX9000B plus新型XRF光谱仪配备有最大功率为50瓦的具有薄Be窗口的风冷Rh靶材管。它配备了超高分辨率的电冷却硅漂移探测器(FSDD)。该仪器具有7个初级滤光片,可确保始终找到最佳激发条件。使用两种激发条件来覆盖表所有目标分析物:一种条件在6kV下不带过滤光片以激发从钠到硫的所有轻元素,另一种在30kV下使用薄Mo过滤光片来激发所有剩余目标分析物。我们使用了300秒的总生存时间来完成一个样品分析。所有测量均在真空条件下进行。

样品制备方法为为粉末压片技术

所有样品经粗磨后还必须进一步细磨,在30MPa压力下加压成型,以减小颗粒效应、矿物效应、元素间吸收-增强效应。

细磨

白生料:称量30g样品(精确到0.05g),0.2g硬脂酸(精确到0.0001g)(助磨剂,以防止细磨过程中结块,提高研磨效率),放入振动磨中,细磨2分钟。

熟料:称量30g样品(精确到0.05g),放入振动磨中,往磨中加10滴乙醇,细磨2分钟。

石膏、铁粉:称量30g样品(精确到0.05g),1g硬脂酸(精确到0.0001g),放入振动磨中,细磨3分钟。

砂岩、页岩、粉煤灰:称量20g样品(精确到0.05g),2g硬脂酸(精确到0.0001g),放入振动磨中,细磨1分钟。

上述细磨时间仅供参考。用户应该根据本厂振动磨的研磨效率,通过实验来确定最佳研磨时间。一般可用一参考样品,不断增加对它的研磨时间,同时测量其特征X射线强度,直至测得的强度不再升高(或降低)趋于恒值为止。注意:在细磨每个样品前,必须将振动磨的料钵清洗干净。细磨后的样品,放入小磨口瓶中保存,贴上标签,注明样品编号、日期。



可分析水泥含量范围如下图

XRF光谱仪分析水泥含量范围.png

水泥分析仪EDX9000Bplus 水泥基体检出限

Na2O--0.018%

MgO --0.011%

Al2O3 -- 0.006%

SiO2   --0.003%

P2O5 -- 0.002%

SO3   --0.001%

K2O -- 0.005%

CaO   --0.003%

TiO2 -- 0.003%

Mn2O3   --0.001%

Fe2O3 -- 0.001%

ZnO   --0.00%

坚固耐用的设计,使得水泥分析仪EDX9000B plus可24小时全天候在水泥厂现场使用。快速分析原材料、中间产品(即熟料)和成品水泥。交付,预先标定的工厂程序使得用户快速分析水泥和矿物成分,测量水泥中的所有关键元素,满足ASTM C114(水硬性水泥XRF分析)精度要求


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