膜厚仪X射线镀层测厚仪EDX8000T 膜厚仪EDX-8000T 型XRF镀层测厚仪/电镀液分析仪 Simply The Best 垂直光路设计，专为镀层厚度分析而设计 高分辨率硅针检测器 (Si-pin) ，适合于多元素镀层的高灵敏度分析，比起传统的封气正比计数器，Si-pin探测器具有更佳分辨率、更低的背景噪声（最高 S/N 比）长期稳定性以及更长的使用寿命 工业级高清样品观测系统

X射线镀层测厚仪EDX8000T PLUS 微光斑垂直光路，专为镀层厚度分析而设计 高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速，无损，高精度测量 高分辨率样品观测系统，精确的点位测量功能有助于提高测量精度 全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

EDX-8000B型XRF镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，EDX-8000B光谱膜厚仪测量的也可以在10秒-30秒内完成。

XRF镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。