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  • EDX8000T PLUSX射线镀层测厚仪

    X射线镀层测厚仪EDX8000T PLUS 微光斑垂直光路,专为镀层厚度分析而设计 高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速,无损,高精度测量 高分辨率样品观测系统,精确的点位测量功能有助于提高测量精度 全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

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    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2022-10-08
  • EDX-8000B光谱膜厚仪

    EDX-8000B型XRF镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,EDX-8000B光谱膜厚仪测量的也可以在10秒-30秒内完成。

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    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2022-10-25
  • XRF镀层测厚仪

    XRF镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。

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    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2022-10-31
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