技术文章_第(10)页－苏州英飞思科学仪器有限公司

2024-05-27

真空型矿产元素分析仪具有超高的灵敏度和重现性，能够分析从硫到铀的广泛元素范围，并覆盖1ppm至99.99%的广泛含量。其操作简便，界面友好，适用于各种矿产资源的快速分析和评估，为地质勘探、矿产开发等领域提供强有力的技术支持。真空型矿产元素分析仪在使用过程中可能会出现故障，了解并正...

2022
12-15

使用X荧光镀层测厚仪前应做的准备工作介绍 X荧光镀层测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度，以及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。本仪器具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量的检测仪器。广泛运用于工业生产测厚中，包含钢板厚度、卷皮带厚度等，当然在实验室精细测量中也有运用，包含航空航天、科研开发等范畴。本系统配备有冷却装置，压缩机组均采用进口原装组件，具有可靠性高、噪音小、控温精度高，经久耐用等特点。通过C型架上进出油口进行冷却。延长了关键部件的使用寿命。X射线管装在一个抽真...
2022
12-9

‍EDXRF荧光光谱仪合金分析仪测定白铜合金 ‍EDXRF荧光光谱EDX9000A合金分析仪测定白铜合金‍直接用白铜合金片样定性扫描测定Ni,Cu和Zn的X一射线荧光强度值,作强度归一化可以半定量确定主量元素质量百分数(%),结果发现元素之间有明显的吸收-增强效应.改用溶液滤纸片薄膜制样测定,强度归一化的计算值与试样元素的推荐值十分吻合,说明元素之间的吸收-增强效应基本消除,研究的方法精确度高，重复性好，满足客户测试需求。谱处理方式:谱经数字滤波扣除本底和重叠峰,用XML峰拟合法提取峰的净强度.定量分析:采用基本参数法(...
2022
12-9

什么是石油X荧光测硫仪？XRF快速测硫仪Compass4294 介绍 X荧光硫测定仪是基于X射线荧光光谱技术分析的一种测试光谱仪。X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。其原理是用X光激发源照射待分析的油样，样品中硫元素的内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出硫元素的特征X光。检测器(Detector)接受这些硫元素的特征X光信号，仪器软件系统将其转为对应的测试强度。用标准物质样品建立特征X射线强度与硫含量之间...
2022
12-9

利用XRF荧光光谱仪Compass300录井谱图分析判别岩性利用XRF荧光光谱仪Compass300录井谱图分析判别岩性目的探究快速,高效判别录井岩屑岩性的方法.利用XRF录井谱图,分析XRF谱图与岩性的关系,并应用最小二乘法进行分析.结果通过对客户3000个样品的分析结果表明,该方法岩性判别符合率达到80%以上.结论是可以利用标准岩性谱图比对分析,便可判别出测量样品的岩性.Compass300能量色散X射线荧光（EDXRF）基于台式机的设计平台，其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪，比一般便携式设备测试效果更稳定，更出众。配备了...
2022
12-9

用X射线荧光光谱仪测定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素 X射线荧光光谱仪EDX9000B测定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素采用熔融片制样用X射线荧光光谱仪EDX9000B对陶瓷,色料和釉物料中Na,Mg,A1,Si,P,S,K,Ca,Ti,Mn,Fe,Ba,Zr,Zn,Hf15种元素进行了测定,用经验系数法校正基体效应.方法简便,快速,分析结果的准确度很好能满足上述物料分析的要求.还用纯化学试剂和标准样品按一定比例混合制备标准样品,弥补了色料和釉缺少标准或没有标样的困难.又对Zr和Hf元素分析线进行了选择,用ZrLα和HfL...
2022
12-6

高灵敏度光谱仪测金仪用于炉渣中金和银的分析测定高灵敏度光谱仪EDX8000MAX测金仪用于炉渣中金和银的测定耐火坩埚用于精炼金(Au)和银(Ag)。在精炼过程中，少量金属扩散到坩埚。在其生命周期结束时，坩埚被压碎并研磨，研磨后的物质称为渣滓。黄金和从浮渣中回收银。洗涤液中金银浓度浮渣一般高于其相应矿石中的浓度。需要测定浮渣中的Au和Ag，了解其商业价值。常用的分析技术如原子吸收光谱法、光发射光谱法和电感耦合等离子体质谱法是溶液采样技术。由于渣滓难熔且具有化学惰性，需要一个复杂而耗时的程序将其带入解决方案。此外，在分解过程...
2022
12-6

X荧光硫测定仪简介 X荧光硫测定仪是基于X射线荧光光谱技术分析的一种测试光谱仪。X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。其原理是用X光激发源照射待分析的油样，样品中硫元素的内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出硫元素的特征X光。检测器(Detector)接受这些硫元素的特征X光信号，仪器软件系统将其转为对应的测试强度。用标准物质样品建立特征X射线强度与硫含量之间...

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