公司动态_第(7)页－苏州英飞思科学仪器有限公司

2025-07-17

在现代材料分析领域，RoHS能量色散X荧光光谱仪因其快速、无损和高精度的特点而被广泛应用。从环境监测到工业质量控制，再到考古学研究，EDXRF都能提供关键的元素分析数据。本文将详细介绍RoHS能量色散X荧光光谱仪各组成部件的功能特点，帮助用户更好地理解和使用这一强大的分析工具。1...

2022
10-1

简述XRF荧光光谱合金分析仪常用的三种测量方法 XRF荧光光谱合金分析仪是用于铜合金及其合金材料中硅、铜、铁、镁、钛、锰、铬、镍、锌、铜、锡、铅等元素分析的三通道光电分析仪。这一仪器在技术基础上，采用了“智能动态跟踪”和“标准曲线的非线性回归”等*技术，使传统的仪的日常调整和标样曲线的建立方法起了根本性的变化，现已大量地应用在冶金、机械、化工等三班倒连续作业以及杂技上对固定的场合，如炉前、成品来料化验等。该仪器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的强度准确性和波长准确性以及强的抗外界干扰性和优良的仪器稳定性，在仪器的软件上，要...
2022
9-26

镀层测厚仪EDX8000T plus全新发布镀层测厚仪EDX8000Tplus全新发布经过多年研发，英飞思科学仪器全新推出X射线荧光光谱镀层测厚仪。主要优点：微光斑垂直光路，专为镀层厚度分析而设计高计数率硅漂移检测器(SDD)可实现快速，无损，高精度测量高分辨率样品观测系统，精确的点位测量功能有助于提高测量精度全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量背景介绍材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性...
2022
9-8

立讯精密采购三台英飞思X荧光光谱仪设备用于镀层分析和RoHS检测 8月下旬，立讯精密相关负责人，技术人员来我司考察仪器，送样品检测。我司技术人员详细介绍了仪器的参数，应用，解释了客户针对性的各种问题。客户提供的几种样品检测分析后，我司仪器给出的各项数据指标都准确合格。立讯精密在和其他厂家对比仪器各项性能指标价格后，于9月初选择英飞思的能量色散X荧光光谱仪--镀层分析仪和RoHS检测仪，用于产品的镀层，镀液检测分析，RoHS检测分析，为产品质量牢牢把关。英飞思镀层测厚仪/膜厚仪微光斑X射线聚焦光学器件通过将高亮度一次X射线照射到0.02mm的...
2022
9-8

X荧光光谱矿石分析仪的各个组成系统作用介绍 X荧光光谱矿石分析仪是根据物质基态原子蒸汽对特征辐射吸收的作用来进行金属元素分析的，它能够灵敏可靠地测定微量或痕量元素。一般由四大部分组成，即进样系统、反应系统、原子化系统和传输系统。今天咱们来了解下X荧光光谱矿石分析仪的各个组成系统：1、进样系统该仪器采用连续流动进样，与传统的样品、载流交替进入的断续进样系统相比，连续流动进样技术既克服传统进样方式下蠕动泵老化进样量不准的问题，又避免使用易腐蚀漏液、价格昂贵的注射泵。同时，连续流动进样技术大大提高了检测速度，将测试一个样品三...
2022
9-1

使用X荧光光谱矿石分析仪时所需要注意的事项介绍元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下:λ=K(Z?s)?2，式中K和S是常数。而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为:E=hν=hC/λ式中，E为X射线光子的能量，单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速。X荧光光谱矿石分析仪作为一种大型精密无机分析仪器，是集光、机、电、计算机、分析技术于一体的高新技术...
2022
8-4

英飞思中标攀钢集团有限公司能量色散XRF荧光光谱仪项目英飞思中标攀钢集团有限公司能量色散XRF荧光光谱仪项目2022年6月，我司EDX9000Bplus型光谱仪成功中标攀钢集团有限公司能量色散XRF荧光光谱仪项目，并于7月完成安装及调试工作，获得客户好评和认可。英飞思EDX9000Bplus光谱仪主要应用于采矿作业（勘探、开采、品位控制），工业矿物，生产水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化学学术研究，考古等。EDX9000Bplus优异的线性动态范围，可实现在水泥、矿物、采矿、金属、玻璃和陶瓷行业进行超高精度的过...
2022
8-4

便携式油品硫氯分析仪全新发布英飞思科学仪器于2022年七月全新发布便携式油品硫氯分析仪Compass4294plus新设备不仅升级了真空样品测试系统，配备了更高阶的FastSDD检测器。并进一步提升了仪器是检测下限，可以同时分析油品中硫和氯元素含量。介绍Compass4294plus能量色散X射线荧光（EDXRF）提供了新的在现场测量石油产品中的硫和氯分析方法，浓度范围从2ppm到10％不等。为了提高检测灵敏度，4294plus使用了具有Peltier冷却功能的高分辨率大面积快速硅漂移检测器（FSDD）...

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