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镀层测厚仪EDX8000T plus全新发布

更新时间:2022-09-26      点击次数:839

镀层测厚仪EDX8000T plus全新发布

经过多年研发,英飞思科学仪器全新推出X射线荧光光谱镀层测厚仪。

主要优点:

>微光斑垂直光路专为镀层厚度分析而设计

>高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速,无损,高精度测量

>高分辨率样品观测系统精确的点位测量功能有助于提高测量精度

>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

  

背景介绍

材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命,因此,镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000T Plus镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,无损,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。

 

XRF镀层测厚仪工作原理

镀层测厚仪EDX8000T Plus是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10-30秒内完成。

 

膜厚仪EDX8000T Plus产品特点

>全新的下照式一体化设计,

>测试快速,无需样品制备

>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触,污染或破坏被测物。软件配备距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,螺纹,曲面等)的异型件的精准测试

>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

>可覆盖元素周期表Mg镁到U

>SDD检测器,具有高计数范围和出色的能量分辨率

>自动切换准直器和滤光片0.15mm,0.2mm,0.3mm

 

膜厚仪EDX8000T Plus应用场景

>EDX8000T Plus镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量,金属电镀镀层分析;

>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度

>镀铬,例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品

>钢上锌等防腐涂层

>电路板和柔性PCB上的涂层

>插头和电触点的接触面

>贵金属镀层,如金基上的铑材料分析

>分析电子和半导体行业的功能涂层

>分析硬质材料涂层,例如 CrNTiN TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能电镀液离子浓度分析


苏州英飞思科学仪器有限公司
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