公司动态_第(4)页－苏州英飞思科学仪器有限公司

2024-04-11

X荧光镀层测厚仪是一种高效、精确的测量工具，主要用于分析材料表面的镀层厚度。其工作原理基于X射线荧光技术，通过发射X射线并测量其反射能量，实现对镀层厚度的非接触式、无损检测。选购X荧光镀层测厚仪时，考虑的关键因素多种多样，这些因素不仅关乎仪器的性能，也直接关系到测量的准确性和效率...

2022
11-2

使用荧光镀层测厚仪时所应该遵守的规定分享在当今社会，要实现对材料的保护或装饰作用，在化工，电子，电力，金属，家具等行业中通常采用喷涂油漆，有色金属，阳极氧化膜，电镀层等，若需要检测该物体表面的覆盖层厚度，即需要应用到荧光镀层测厚仪了。荧光镀层测厚仪测量时在空中按开机键开机，然后听到“bi”的一声，漆膜测厚仪进入测量状态，每次开机默认单次测量状态；将探头轻压到有涂层的金属基底上，测厚仪发出bibi两声，显示被测涂层厚度值n；按MODE键，可选择测量方式，有单次测量、连续测量、差值测量三种测量方式可供选择；按UNIT键...
2022
10-8

简述XRF荧光光谱合金分析仪的常见故障原因及解决方法 XRF荧光光谱合金分析仪是根据X射线荧光光谱分析方法配置的仪器，由激发源（X射线管）和探测系统构成。能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量，具有灵敏度高、精密度好、性能稳定、分析速度快等特点，是一种中型、经济、高性能仪器。由产生荧光的原理可知，荧光从产生到*消失，它有一个时间过程（即从高能级的非稳态跃迁到低能级的亚稳态或稳态的时间）。不同的物质，这个时间的长短是不一样的，它们从几微秒到几分钟不等。我们可以给探测器的快门一个延迟时间，让激发光*消失后开始对荧光采样。在一些特...
2022
10-1

简述XRF荧光光谱合金分析仪常用的三种测量方法 XRF荧光光谱合金分析仪是用于铜合金及其合金材料中硅、铜、铁、镁、钛、锰、铬、镍、锌、铜、锡、铅等元素分析的三通道光电分析仪。这一仪器在技术基础上，采用了“智能动态跟踪”和“标准曲线的非线性回归”等*技术，使传统的仪的日常调整和标样曲线的建立方法起了根本性的变化，现已大量地应用在冶金、机械、化工等三班倒连续作业以及杂技上对固定的场合，如炉前、成品来料化验等。该仪器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的强度准确性和波长准确性以及强的抗外界干扰性和优良的仪器稳定性，在仪器的软件上，要...
2022
9-26

镀层测厚仪EDX8000T plus全新发布镀层测厚仪EDX8000Tplus全新发布经过多年研发，英飞思科学仪器全新推出X射线荧光光谱镀层测厚仪。主要优点：微光斑垂直光路，专为镀层厚度分析而设计高计数率硅漂移检测器(SDD)可实现快速，无损，高精度测量高分辨率样品观测系统，精确的点位测量功能有助于提高测量精度全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量背景介绍材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性...
2022
9-8

立讯精密采购三台英飞思X荧光光谱仪设备用于镀层分析和RoHS检测 8月下旬，立讯精密相关负责人，技术人员来我司考察仪器，送样品检测。我司技术人员详细介绍了仪器的参数，应用，解释了客户针对性的各种问题。客户提供的几种样品检测分析后，我司仪器给出的各项数据指标都准确合格。立讯精密在和其他厂家对比仪器各项性能指标价格后，于9月初选择英飞思的能量色散X荧光光谱仪--镀层分析仪和RoHS检测仪，用于产品的镀层，镀液检测分析，RoHS检测分析，为产品质量牢牢把关。英飞思镀层测厚仪/膜厚仪微光斑X射线聚焦光学器件通过将高亮度一次X射线照射到0.02mm的...
2022
9-8

X荧光光谱矿石分析仪的各个组成系统作用介绍 X荧光光谱矿石分析仪是根据物质基态原子蒸汽对特征辐射吸收的作用来进行金属元素分析的，它能够灵敏可靠地测定微量或痕量元素。一般由四大部分组成，即进样系统、反应系统、原子化系统和传输系统。今天咱们来了解下X荧光光谱矿石分析仪的各个组成系统：1、进样系统该仪器采用连续流动进样，与传统的样品、载流交替进入的断续进样系统相比，连续流动进样技术既克服传统进样方式下蠕动泵老化进样量不准的问题，又避免使用易腐蚀漏液、价格昂贵的注射泵。同时，连续流动进样技术大大提高了检测速度，将测试一个样品三...
2022
9-1

使用X荧光光谱矿石分析仪时所需要注意的事项介绍元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下:λ=K(Z?s)?2，式中K和S是常数。而根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为:E=hν=hC/λ式中，E为X射线光子的能量，单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速。X荧光光谱矿石分析仪作为一种大型精密无机分析仪器，是集光、机、电、计算机、分析技术于一体的高新技术...

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