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热门关键词:X荧光光谱矿石分析仪,便携式移动XRF光谱仪,古董分析仪,石油快速测硫仪,真空型矿产元素分析仪
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X荧光光谱仪在实际操作中的常见问题相应解决方法分享
2025-04-21
X荧光光谱仪是一种基于X射线荧光效应的分析仪器,用于快速、无损地检测样品中的元素成分与含量。其工作原理是利用X射线管产生的高能X射线激发样品,使样品中元素的原子内层电子跃迁,外层电子填补空穴时释放出特征X射线荧光。X荧光光谱仪在实际操作中用户可能会遇到一些问题,以下是常见问题相应...
2022
11-16
荧光光谱测金仪可通过这些方法分离荧光
荧光光谱测金仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法,是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画。该仪器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的强度准确性和波长准确性以及强的抗外界干扰性和优良的仪器稳定性,在仪器的软件上,要求能够进行导数、去卷积等复杂的数学计算,能够计算光谱间相似度、模式识别分析、支持多元校正分析和用户自建谱库并进行检索。荧...
2022
11-15
粉末压片XRF光谱仪测定土壤及水系沉积物和岩石样品中15种稀土元素
粉末压片XRF荧光光谱仪EDX9000B矿石土壤分析仪测定土壤及水系沉积物和岩石样品中15种稀土元素采用粉末样品压片制样,使用能量色散X射线荧光光谱仪对土壤,水系沉积物和岩石样品中15个稀土元素(La,Ce,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Lu,Y)进行测定.开发了15个稀土元素的测量条件,基体效应和谱线重叠干扰校正.使用60余个土壤,水系沉积物和岩石标样建立校准曲线,采用经验系数法和康普顿内标法校正基体效应,并用多元回归准确扣除稀土元素...
2022
11-15
便携式XRF荧光光谱仪在测定可可粉中铁元素含量的应用
便携式XRF荧光光谱仪Compass200测定可可粉中铁元素含量可可粉是从可可树结出的豆荚(果实)里取出的可可豆(种子),经发酵、粗碎、去皮等工序得到的可可豆碎片(通称可可饼),由可可饼脱脂粉碎之后的粉状物,即为可可粉。可可粉按其含脂量分为高、中、低脂可可粉;按加工方法不同分为天然粉和碱化粉。可可粉具有浓烈的可可香气,可用于高档巧克力、饮品,牛奶,冰淇淋、糖果、糕点及其它含可可的食品。在最终产品中以及在过程中测量可可粉中的铁(Fe)含量进行监控生产。这一举措确保了一致的味道,...
2022
11-15
XRF油品分析仪在硫氯元素分析中的检测应用
便携式测硫仪Compass4294分析航空用油中的硫元素含量Compass4294测试航空燃料中的硫更清洁的燃料可以帮助最大限度地减少气候影响航空排放。喷气燃料S水平范围从10到3000ppm,平均水平为400-800ppm。然而,降低燃料中的S可能会导致润滑性降低会影响飞机发动机和燃油系统的性能。因此,保持最佳S水平至关重要。X射线荧光(XRF)分析是可重现的燃料油中硫的准确筛选方法符合全球污染法规。便携的XRF可用于燃料处理系统开发中心、航空油库、油罐车或泵站机库附近。X...
2022
11-15
X射线能量色散荧光光谱矿石测试仪熔片法同时测定锰硅合金中锰、硅、磷
X射线能量色散荧光光谱EDX9000BPlus矿石测试仪熔片法同时测定锰硅合金中锰、硅、磷锰的用途非常广泛,世界上90%-95%的锰应用于冶金工业,其余应用于电池工业、陶瓷工业、化学工业等。根据成矿作用过程中的含矿岩系特征,将世界锰矿划分为海相沉积型、火山(热液)-沉积型、变质型、热液型和表生型5类,以海相沉积型、变质型和表生型为主。截至2020年,世界锰的储量达8.95亿吨,但分布极不均匀,主要集中在南非、巴西、乌克兰、澳大利亚、加蓬、中国、印度、加纳等国。锰矿是钢铁工业重...
2022
11-15
能量色散荧光光谱仪应用于润滑油中重金属元素含量的检测分析
Compass4294能量色散荧光光谱仪用于分析润滑油中重金属元素含量应用报告Compass4294EnergyDispersiveFluorescenceSpectrometerisusedtoanalyzethecontentofheavymetalelementsinlubricatingoil.Applicationreport一简介润滑油是用在各种类型汽车、机械设备上以减少摩擦,保护机械及加工件的液体或半固体润滑剂,主要起润滑、辅助冷却、防锈、清洁、密封和缓冲等作用...
2022
11-14
用X射线荧光光谱镀层测厚仪膜厚仪测量复合镀层厚度和成分
用X射线荧光光谱镀层测厚仪EDX8000B膜厚仪测量复合镀层的厚度和成分随着X射线荧光(XRF)元素分析膜厚仪的各种进展,不仅提高了定性和定量分析的能力与精度,而且已被用来测量镀层厚度,使原来无法进行无损绝对测量的问题得以解决.但是,生产中常见的复合镀层厚度的绝对测量,仍未园满解决.英飞思ESI生产的EDX8000B膜厚仪确立的XRF复合镀层计算方法,能同时测量它们两层的厚度.该方法基于FP无标样基本参数法算法,能实现最多5层多镀层厚度和成分分析,是理想和可靠的金属镀层测厚仪...
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