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XRF合金分析仪用溶片玻璃法分析锰铁锰硅和金属锰

更新时间:2022-11-16      点击次数:541

XRF熔片玻璃法分析锰铁,锰硅合金和金属锰---EDX9000A合金分析仪


硅铁和硅锰合金是钢铁冶炼主要的添加剂和脱氧剂,准确的测定其中各个元素是十分必要的。作为合金分析通常采用化学分析方法测定主量元素硅和锰,采用 ICP原子发射光谱仪 测定其中的各杂质元素,就其方法而言化学分析方法耗时较长,操作繁复,ICP分析时间长,而且需要进行试样分解。通过大量的实验研究确定了试样粒度、样环的材质、样片的制备方法、测定条件等采用XRF熔片法测定硅铁和硅锰合金,可以直接玻璃熔片法,同时进行主量元素和杂质元素共16项11个常规元素,从而简化试验步骤,降低劳动强度,获得了令人满意的结果

XRF熔片分析中,存在着样品直接灼烧和熔融质量变化不同产生的误差,常用的稀释比校正无法校正这种误差.通过在固定质量(体积)的熔剂中熔入系列被测组分的氧化物制备出质量(体积)相同的玻璃片标准系列,建立X射线荧光强度与玻璃片中被测组份体积浓度的函数曲线,对测量结果使用试样玻璃片质量与校准曲线玻璃片的质量比校准分析结果,即质量校正代替稀释比校正.以纯物质(MnO_2,SiO_2,(NH_4)_2HPO_4和Fe_2O_3)为标准,用选定的真空型EDX9000A合金分析仪工作条件,建立了锰系合金分析用Mn,Si,Fe,P质量分数对荧光强度的校准曲线,其线性相关系数分别为0.99993,0.99998,0.999 96,0.99981.用标准样品考察了校准曲线的准确度,结果均非常满意。说明了玻璃熔片样品制备法在XRF光谱仪中的应用。

X射线荧光光谱法EDX9000A合金分析仪测定硅铁和硅锰合金结果如下

X 射线荧光光谱法测定硅铁和硅锰合金.jpg



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