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X荧光镀层测厚仪出现故障后及时解决非常重要
X荧光镀层测厚仪出现故障后及时解决非常重要

2024-04-22

X荧光镀层测厚仪具有测量精度高、稳定性好、操作简便等优点,广泛应用于金属加工、电子、环境监测及质检等行业。它不仅能快速准确地确定涂层厚度,还能分析元素的成分和化学状态,为产品质量控制和科学研究提供有力支持。在长期使用过程中,X荧光镀层测厚仪可能会遇到一些故障。这些故障不仅会影响测...
  • 2022

    11-17
    XRF镀层测厚膜厚仪应用介绍 RF镀层测厚仪EDX-8000B涂层膜厚仪使用XRF进行涂层测量的好处准确的厚度测量有助于制造商提供优质产品,同时控制成本。涂层的厚度应与完成工作所需的一样厚;制造涂层太厚的产品会增加制造成本。客户还通过确保他们收到的材料涂有正确的材料和正确的厚度来测量涂层,以对进料进行质量控制。使用快速、高效且无损的工具有助于在产品线和现场进行质量控制。一台EDX8000测厚仪可以在短短10秒内提供测试结果,并且可以通过单点校准镜头来完善结果,只需30秒即可完成。EDX8000膜厚仪也不会...
  • 2022

    11-16
    XRF荧光光谱仪合金分析仪在锌合金分析中的应用 XRF荧光光谱EDX9000A‍合金分析仪在锌合金分析中的应用EDX9000A合金分析仪配备一个含35种以上元素的标准包,在几秒钟内可生成合金的化学成分和牌号信息。从简单的分拣到具有挑战性的牌号区分,合金分析光谱仪EDX9000A都会提供高度精细的材料化学成分,以快速准确地辨别纯金属和合金牌号。这些金属和合金包含但不限于以下所列项目:铝合金贵金属铬钼钢不锈钢钴合金工具钢铜合金钛合金异常合金锻铝合金镁合金锌合金镍合金锆合金镍/钴合金本案我们在X射线能量色散荧光光谱分析(XRF)...
  • 2022

    11-16
    XRF合金分析仪用溶片玻璃法分析锰铁锰硅和金属锰 XRF熔片玻璃法分析锰铁,锰硅合金和金属锰---EDX9000A合金分析仪硅铁和硅锰合金是钢铁冶炼主要的添加剂和脱氧剂,准确的测定其中各个元素是十分必要的。作为合金分析通常采用化学分析方法测定主量元素硅和锰,采用ICP原子发射光谱仪测定其中的各杂质元素,就其方法而言化学分析方法耗时较长,操作繁复,ICP分析时间长,而且需要进行试样分解。通过大量的实验研究确定了试样粒度、样环的材质、样片的制备方法、测定条件等采用XRF熔片法测定硅铁和硅锰合金,可以直接玻璃熔片法,同时进行主量元...
  • 2022

    11-16
    XRF镀层测厚仪在金属镀层定量定性分析中的应用 XRF荧光膜厚仪镀层测厚仪EDX8000B在金属镀层定性和定量分析中的应用‍X射线荧光光谱(XRF)镀层测厚仪EDX8000B广泛应用于在镀层中的定性和定量分析。我们对检测步骤进行了测量和优化.该方法采用每个元素*的特征X射线来确定是否沉积上某种元素;利用FP法快速测定一组在不同浓度的电解液中电沉积所得镀层中的铜元素含量,结果表明该方法可以快速测定镀层中元素含量的变化,该方法具有测试准,投入少,易掌握,速度快等特点X-RAY测厚仪EDX8000B的基本原理X射线广泛用于各种无...
  • 2022

    11-16
    XRF多元素成分分析仪在选矿尾矿上的应用 硅铁,钙铁,铁红,磁铁矿,锰铁,铬铁,钼铁,钛铁,钒铁分析仪EDX9000B多元素分析仪‍英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿,从选矿到尾矿,EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性,分析性能和稳定性。EDX9000B专注于对地质材料的主量,微量和痕量元素进行定性和定量分析,其中包括:•铁矿•铜矿•铝土矿•贵金属矿产•稀土矿•原料•磷酸盐•煤炭•铅锌矿•锰矿•镍矿•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水...
  • 2022

    11-16
    荧光光谱测金仪可通过这些方法分离荧光 荧光光谱测金仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法,是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画。该仪器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的强度准确性和波长准确性以及强的抗外界干扰性和优良的仪器稳定性,在仪器的软件上,要求能够进行导数、去卷积等复杂的数学计算,能够计算光谱间相似度、模式识别分析、支持多元校正分析和用户自建谱库并进行检索。荧...
  • 2022

    11-15
    粉末压片XRF光谱仪测定土壤及水系沉积物和岩石样品中15种稀土元素‍ ‍粉末压片XRF荧光光谱仪EDX9000B矿石土壤分析仪测定土壤及水系沉积物和岩石样品中15种稀土元素‍采用粉末样品压片制样,使用能量色散X射线荧光光谱仪对土壤,水系沉积物和岩石样品中15个稀土元素(La,Ce,Pr,Nd,Sm,Eu,Gd,Tb,Dy,Ho,Er,Tm,Yb,Lu,Y)进行测定.开发了15个稀土元素的测量条件,基体效应和谱线重叠干扰校正.使用60余个土壤,水系沉积物和岩石标样建立校准曲线,采用经验系数法和康普顿内标法校正基体效应,并用多元回归准确扣除稀土元素...
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