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X射线镀层测厚仪

简要描述:X射线镀层测厚仪EDX8000T PLUS
>微光斑垂直光路,专为镀层厚度分析而设计
>高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速,无损,高精度测量
>高分辨率样品观测系统,精确的点位测量功能有助于提高测量精度
>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

  • 产品厂地:苏州市
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-04-08
  • 访  问  量:1199

详细介绍

品牌英飞思价格区间20万-50万
产地类别国产应用领域环保,电子,汽车,电气,综合

X射线镀层测厚仪EDX8000T PLUS

>微光斑垂直光路,专为镀层厚度分析而设计

>高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速,无损,高精度测量

>高分辨率样品观测系统,精确的点位测量功能有助于提高测量精度

>全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量

背景介绍

材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命,因此,镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000T Plus镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,无损,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。

XRF镀层测厚仪工作原理

镀层测厚仪EDX8000T Plus是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10-30秒内完成。

膜厚仪EDX8000T Plus产品特点

>全新的下照式一体化设计

>测试快速,无需样品制备

>可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触,污染或破坏被测物软件配备距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,螺纹,曲面等)的异型的精准测试

>备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

>可覆盖元素周期表Mg镁到U

>SDD检测器,具有高计数范围和出色的能量分辨率

>自动切换准直器和滤光片0.15mm,0.2mm,0.3mm

膜厚仪EDX8000T Plus应用场景

>EDX8000T Plus镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量,金属电镀镀层分析;

>测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

>可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度

>镀铬,例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品

>钢上锌等防腐涂层

>电路板和柔性PCB上的涂层

>插头和电触点的接触面

>贵金属镀层,如金基上的铑材料分析

>分析电子和半导体行业的功能涂层

>分析硬质材料涂层,例如 CrNTiN TiCN

>可拓展增加RoHS有害元素分析功能电镀液离子浓度分析

技术参数

仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm

超大样品腔:460mm*310mm*95mm

仪器重量: 40Kg

元素分析范围:Mg12-U92镁到铀可同时分析并测量24种元素

可分析含量范围:1ppm- 99.99%

涂镀层检出限:0.005μm,可同时分析5层以上镀层

成分分析含量范围:5ppm-99.99%

探测器:AmpTek 高分辨率电制冷SDD Detector

多道分析器: 4096DPP analyzer

X光管:50W高功率微聚焦光管

准直器:Φ0.15mm,Φ0.2mm,Φ0.3mm,可选配0.1*0.2mm

高压发生装置:电压最大输出50kV,自带电压过载保护

电压:220ACV 50/60HZ

样品平台:手动高精度移动平台

样品对焦:手动测距对焦

环境温度:-10 °C 35 °C

膜厚仪EDX8000T Plus可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用:如Ag/Cu,Zn/FeCr/Fe, Ni/Fe

多涂镀层应用:如Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/FeAu/Ni/Cu

合金镀层应用:如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu

合金成分应用:如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度



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