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利用XRF荧光光谱仪Compass300录井谱图分析判别岩性

发布时间:2022-12-09      点击次数:214

利用XRF荧光光谱仪Compass300录井谱图分析判别岩性

目的探究快速,高效判别录井岩屑岩性的方法.利用XRF录井谱图,分析XRF谱图与岩性的关系,并应用最小二乘法进行分析.结果通过对客户3000个样品的分析结果表明,该方法岩性判别符合率达到80%以上.

结论是可以利用标准岩性谱图比对分析,便可判别出测量样品的岩性.

Compass 300能量色散X射线荧光(EDXRF)基于台式机的设计平台,其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪,比一般便携式设备测试效果更稳定,更出众。配备了先进的SDD检测器, 同时实现了高分辨率,高计数率CPS和高灵敏度,从而达到实验室级别的测试效果。


特点和优势

•Compass 300配备的SDD检测器优势

>高分辨率:通常优于130ev,降低相邻元素干扰,并提高轻元素检测效果

>高计数率:150,000 cps (high count per second)

得到相同的强度,只要普通Si Pin检测器的0.2~0.05倍的时间,即Si Pin在设定分析时间为100秒的話,对SDD而言,得到相同的强度,只需5~20秒

>高灵敏度:灵敏度提高6-10倍。低背景值,提高元素检测下限

•便携,坚固,紧凑的设计,轻松实现现场高精度样品无损检测

•可分析各种样品形态:包括矿体、矿块、矿渣、矿粉、粗矿、精矿、尾矿、土壤、泥土、泥浆、灰尘、粉尘、过滤物、薄膜、废水、废油、液体样品等

•只需制备少量样品便可进行无损检测

•一键测试,一键打印报告

•可选配大容量电池,无需外部供电情况下可实现长时间工作


应用领域

>分析矿种

涵盖从Mg至U之间的金属、非金属、贵重金属和稀有金属矿等

>勘查

多元素现场快速分析,可广泛应用于普查、详查的各个过程,追踪矿化异常,扩展勘查范围。可大大减少送回实验室样品的数量,从而节约运输和分析费用

>岩芯检测

快速分析岩芯和和其他钻探样品,建立矿山三维图,分析储量,可大大提高钻探现场及时决策效率

>开采过程控制

矿体边界圈定,矿脉走向判定,对开采过程进行精确管理和控制,对矿石品位进行随时检测

>品位控制

对精矿、矿渣、矿尾等矿物品位进行精确快速分析,为矿物贸易、加工以及再利用提供价值判断依据

>环境分析

快速对矿石周围环境、尾矿、粉尘、土壤污染等进行分析与检测,评估矿石环境修复效果

>石油化工:燃料,润滑油,添加剂中的硫元素分析,磨损金属分析

>刑侦及公安:证据分析,材料匹配,爆炸物等

>食品,化妆品和药品:添加剂控制,原材料,有害金属,包装材料等


技术参数

探测器

高分辨率SDD检测器

激发源

4瓦微型一体化光管

50kv Max,200uA Max

工作温度

-20 to 50 °C

测量时间

30-300秒(用户可自定义测试时间)

样品类型

液体,固体和粉末

仪器校准

开机自动校准

标定曲线

地矿

仪器尺寸

270mm*320mm*230mm(长*宽*高)

样品腔尺寸

170mm*110mm*17mm(长*宽*高)

仪器重量

10.5kg

显示屏(分辨率1280*800)

8英寸 Win10操作系统

数据传输

USB Port, 蓝牙, Wi-Fi, GPS

安全防护

辐射指示灯

内置射线保护装置(自动切断)

软件警示

报告格式

Excel, PDF

配件及耗材

测试薄膜

矿样粉末专用测试杯

取样勺

测试窗口专用薄膜

可选配件

电池:连续工作八小时

压片机

熔片机

电子秤

磨样机

150目筛子


无需每日校准即可获得高精度结果。仪器自带工厂标定曲线,客户可直接测量样品。


苏州英飞思科学仪器有限公司
  • 联系人:张经理
  • 地址:江苏省苏州工业园区唯新路69号一能科技园2幢407
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