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用X射线荧光光谱仪测定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素

发布时间:2022-12-09      点击次数:202

X射线荧光光谱仪EDX9000B测定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素

采用熔融片制样用X射线荧光光谱仪EDX9000B对陶瓷,色料和釉物料中Na,Mg,A1,Si,P,S,K,Ca,Ti,Mn,Fe,Ba,Zr,Zn,Hf 15种元素进行了测定,用经验系数法校正基体效应.方法简便,快速,分析结果的准确度很好能满足上述物料分析的要求.还用纯化学试剂和标准样品按一定比例混合制备标准样品,弥补了色料和釉缺少标准或没有标样的困难.又对Zr和Hf元素分析线进行了选择,用ZrLα和HfLβ1作为分析线,而不采用ZrKα,不仅使制备的熔片达到ZrLα线的饱和厚度,使分析结果的准确度和重现性好,而且还消除了ZrKα的谱线对HfLβ1分析线的干扰



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