EDX8000是一款快速，准确且经济高效的XRF荧光光谱分析仪，用于分析各种金属塑料及电子材料中的有毒金属和其他有毒有害元素。它提供的元素检测下限（通常2ppm）满足RoHS法规对于材料中元素限制的含量标准。EDX8000适用范围广泛，可应用于金属/塑料/土壤/玩具/电子电器/汽车等多种行业检测。也可检测粉状、板状、线状等各种规则与不规则样品，可在各种工业生产或商业环境下使用。

Compass 200能量色散X射线荧光（EDXRF）光谱仪实现了快速、准确分析土壤中的有害金属元素Pb（铅），As（砷），Cd（镉），Hg（汞），Cu（铜），Ni（镍），Zn（锌），Cr（铬）等，能够实时现场对厂区、矿区、重工业区周边的环境进行监测，从而进行控制排放和污染治理。操作人员可以直接用Compass 200来分析现场的土壤样品，在短时间内就可以取得和实验室同样的分析效果。

作为一款立式高性能X射线荧光（EDXRF）材料分析仪，EDX8800M MAX配置了高功率X射线激发系统，同时搭配了高计数率和高分辨率的FSDD探测器，它提供了出色的线性动态范围，可在金属、水泥、矿物、采矿、玻璃和陶瓷中实现更高精度的过程和质量控制。主要应用于在第三方实验室及各种需要进行高精度材料成分分析的场所。专注于对各种材料的主量，微量和痕量元素或化合物进行定性和定量分析。

作为一款立式高性能X射线荧光（EDXRF）材料分析仪，EDX8800M MAX配置了高功率X射线激发系统，同时搭配了高计数率和高分辨率的FSDD探测器，它提供了出色的线性动态范围，可在金属、水泥、矿物、采矿、玻璃和陶瓷中实现更高精度的过程和质量控制。主要应用于在第三方实验室及各种需要进行高精度材料成分分析的场所。专注于对各种材料的主量，微量和痕量元素或化合物进行定性和定量分析。

材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、导电性、产品的可靠性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000T Plus镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定

ESI英飞思EDX9000B plus光谱仪主要应用于采矿作业（勘探、开采、品位控制），工业矿物，生产水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化学学术研究，考古等。其优异的线性动态范围，可实现在水泥、矿物、采矿、金属、玻璃和陶瓷行业进行超高精度的过程控制和质量控制。具有全新真空光路系统和超高分辨率技术的新一代Fast SDD检测器，对轻、中、重元素和常见氧化物都可达到最佳分析效果。