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铁矿分析仪

简要描述:EDX9000B配置了*基于Windows基本参数算法的FP(Fundamental parameter)软件,同时配备了高性能硬件,来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体,合金,粉末,液体或者浆液,EDX9000B都可以轻松实现从钠(Na)到铀(U)元素的无损定性和定量分析。分析速度快,测试结果精确,仪器性能稳定。

  • 产品厂地:苏州市
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-04-08
  • 访  问  量:674

详细介绍

品牌英飞思行业专用类型地质岩矿
价格区间面议仪器种类台式/落地式
应用领域环保,石油,地矿,能源,冶金

EDX-9000B XRF Spectrometer

能量色散X荧光光谱仪

矿产检测专家

image.png

Simply the Best

>美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率

>真空测试环境提供优秀轻元素检测效果

>无损元素分析涵盖11Na to 92U

>适应各种复杂矿物样品测试,固体,液体,合金,粉末和泥浆

>多组合滤光片系统,有效提高微量元素检出限

>坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境

EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家

作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光(EDXRF)元素分析仪,新EDX9000B配置了*基于Windows基本参数算法的FPFundamental parameter软件同时配备了高性能硬件,来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体,合金,粉末,液体或者浆液EDX9000B都可以轻松实现从钠(Na)到铀(U元素的无损定性和定量分析更快的分析速度,更精确的测试结果,更稳定的仪器性能, 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的优选工具。

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ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿,从选矿到尾矿,EDX9000B在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性,分析性能和稳定性。

EDX9000B专注于对地质材料的主量,微量和痕量元素进行性和定量分析其中包括

•铁矿• 铜矿 铝土矿•贵金属矿产•稀土•原料•磷酸盐•煤炭•铅锌矿锰矿镍矿石灰石粘土石膏玻璃土壤水泥耐火材料及其他等

EDX9000B操作简单,分析性能出色,同时还可拓展到以下应用

>塑胶及有机物:塑料材料PEPVC,添加剂等元素分析

>石油化工:燃料,润滑油监测,添加剂,磨损金属等中的硫元素分析

>环境:废水,空气污染,土壤和地面,排放控制等

>涂层厚度和薄膜:分析多层涂层,钢涂层,杂质等

>刑侦及公安:证据分析,材料匹配,爆炸物等

>食品,化妆品和药品:添加剂控制,原材料,有害金属,包装材料等

产品特点

作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪,EDX-9000B兼顾了耐用性,易于操作和高性价比。其显著优势主要有:

无需或者很少的样品制备,全程无损分析,一到三分钟即可出结果

•强大的基于Windows的FP(基本参数算法)软件降低了基体效应的影响

50 kV 光管管和电制冷SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性,而且具有出色的元素峰分辨率

能同时进行元素和氧化物成分分析

多重仪器硬件保护系统,并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全

特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P的测试灵敏度和准确性,同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性有了明显的提高

友好的用户界面,可定制的分析报告,可一键打印测试报告,包括分析结果,样品信息,光谱信息和样品图像

•八种光路准直系统,根据不同样品大小自动切换亦可测试样品不同位置再求平均值,降低样品不均匀性造成的误差

高清内置摄像头,清晰地显示仪器所检测的样品部位

矿产元素检测专家EDX9000B

>仪器参数

仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm

超大样品腔:460mm*310mm*95mm

半封闭样品腔(抽真空时):Φ150mm×75mm 

仪器重量: 45Kg

元素分析范围:Na11-U92钠到铀

可分析含量范围:1ppm- 99.99%

探测器:AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器

多道分析器: 4096DPP analyzer 分析器

X光管:50W高功率铍窗光管

高压发生装置:电压最大输出50kV自带电压过载保护

电压:220ACV 50/60HZ

环境温度:-10 °C 35 °C

 

仪器配置

>标准配置

>可选配置

Ag初始化标样

磨样机

真空泵

压片机

矿石专用样品杯 

烘干箱

USB数据线

熔片机

电源线

电子秤

测试薄膜

矿石标准样

仪器出厂和标定报告

交流净化稳压电源

保修卡

150目筛子

功能强大而界面友好的测试软件

 image.png

界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。

软件内核-基本参数法FP可轻松分析未知样品。

EDX9000B已在工厂安装了软件并进行了数据标定,客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了

>一键初始化仪器,基体自动匹配

>自动定性,半定量和定量分析,不同样品测试谱图可实时对比

>光谱处理和校正,去除双倍峰和逃逸峰干扰,降低元素吸收增强效应影响

>光谱背景扣除,有效提高微量元素检测精度

>可实时刷新测量结果

>简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线

>可定制化测试报告,一键打印

>提供多种数据访问接口,可兼容LIMS实验室管理系统

磁铁矿样品10次测试稳定性报告

测量次数
/元素

Fe(%)

SiO2(%)

TiO2(%)

MnO(%)

Zn(%)

S(%)

P(%)

Pb(%)

K2O(%)

1_1

65.4014

6.6936

0.1123

0.0489

0.0090

0.8309

0.0118

0.0076

0.0684

1_2

65.4336

6.6575

0.1038

0.0465

0.0095

0.9092

0.0121

0.0075

0.0667

1_3

65.3603

6.7127

0.1132

0.0495

0.0093

0.8903

0.0119

0.0071

0.0677

1_4

65.3935

6.7233

0.1278

0.0483

0.0097

0.8303

0.0117

0.0068

0.0684

1_5

65.3812

6.7145

0.1058

0.0493

0.0097

0.8303

0.0117

0.0066

0.0684

1_6

65.3905

6.7421

0.1021

0.0503

0.0097

0.8303

0.0117

0.0065

0.0684

1_7

65.3603

6.7041

0.1075

0.0495

0.0093

0.8903

0.0119

0.0071

0.0677

1_8

65.4161

6.7280

0.1086

0.0461

0.0093

0.8938

0.0115

0.0074

0.0668

1_9

65.4320

6.7036

0.1182

0.0512

0.0096

0.9005

0.0120

0.0079

0.0669

1_10

65.4546

6.7707

0.1072

0.0502

0.0097

0.8868

0.0121

0.0067

0.0677

平均值Average

65.4024

6.7150

0.1107

0.0490

0.0095

0.8693

0.0118

0.0071

0.0677

标准偏差SD

0.0316

0.0300

0.0077

0.0016

0.0002

0.0340

0.0002

0.0005

0.0007

相对标准偏差RSD

0.0483%

0.4466%

6.9348%

3.3142%

2.5743%

3.9090%

1.6512%

6.6142%

1.0337%

测量次数
/元素

Na2O (%)

MgO (%)

Al2O3 (%)

As (%)

Cr (%)

Ni (%)

Cu (%)

Sn (%)

CaO (%)

1_1

0.0203

0.7523

0.5222

0.0065

0.1636

0.0760

0.0476

0.0131

0.6359

1_2

0.0232

0.8134

0.5230

0.0061

0.1584

0.0787

0.0488

0.0114

0.6336

1_3

0.0213

0.8059

0.5407

0.0071

0.1667

0.0796

0.0494

0.0144

0.6345

1_4

0.0216

0.7635

0.5234

0.0072

0.1640

0.0761

0.0485

0.0131

0.6267

1_5

0.0223

0.7815

0.5334

0.0072

0.1640

0.0751

0.0485

0.0131

0.6267

1_6

0.0222

0.7311

0.5512

0.0072

0.1640

0.0741

0.0485

0.0131

0.6267

1_7

0.0212

0.7559

0.5407

0.0071

0.1667

0.0756

0.0494

0.0144

0.6345

1_8

0.0249

0.7737

0.5233

0.0068

0.1576

0.0760

0.0471

0.0131

0.6324

1_9

0.0204

0.7712

0.5123

0.0064

0.1659

0.0750

0.0475

0.0140

0.6241

1_10

0.0236

0.8017

0.5435

0.0071

0.1663

0.0730

0.0489

0.0130

0.6414

平均值Average

0.0221

0.7750

0.5314

0.0069

0.1637

0.0759

0.0484

0.0133

0.6317

标准偏差SD

0.0015

0.0261

0.0123

0.0004

0.0033

0.0020

0.0008

0.0009

0.0054

相对标准偏差RSD

6.6056%

3.3702%

2.3177%

5.8244%

1.9863%

2.5892%

1.6256%

6.5508%

0.8578%

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  • 联系人:张经理
  • 地址:江苏省苏州工业园区唯新路69号一能科技园2幢407
  • 邮箱:sales@esi-xrf.com
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