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不知道了吧!荧光镀层测厚仪有五种测量原理可选

更新时间:2022-11-09      点击次数:361
  荧光镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量可以在10秒到几分钟内完成。
 
  今天小编要与大家分享的是荧光镀层测厚仪的五种测量原理:
 
  1、磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高。
 
  2、超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵\测量精度也不高。
 
  3、涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量,此种方法较磁性测厚法精度低。
 
  4、放射测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。
 
  5、电解测厚法:此方法不属于无损检测,需要破坏涂镀层。一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦。
 
  在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。显而易见,不论是基体或是覆层,越粗糙,测量值越不可靠。本仪器为获得可靠的数据,基体的平均粗糙度应小于覆层厚度的5%。而对于表面杂质,则应予去除。有的仪表上下限,以剔除那些“飞点”。
 
  基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。
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