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X荧光测硫仪测量时要注意样品台板的位置

更新时间:2024-06-24      点击次数:145
X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。其原理是用X光激发源照射待分析的油样,样品中硫元素的内层电子被击出后,造成核外电子的跃迁,在被激发的电子返回基态的时候,会放射出硫元素的特征 X 光。检测器(Detector)接受这些硫元素的特征X光信号,仪器软件系统将其转为对应的测试强度。用标准物质样品建立特征X射线强度与硫含量之间的关系,也就是标定曲线。在建立了硫元素不同含量范围的标定曲线后,再去测试未知样品,便可快速分析石油及其他液体中的硫含量。
参考样和待测样品被置于同一载样台板上。当取样孔可以取样时,参考样位于测量位置,此时显示屏右下角有:“参考样位于测量位置”字样,当挡板盖住取样孔时,待测样位于测量位置,此时显示屏左下角有:“待测样位于测量位置”字样。
样品台板只能处于测“参考样”位置或测“待测样”位置,不能处于其它任何中间位置,处于其它位置仪器将报警,也不能正常工作。
仪器在不测含量时,载样处于测“参考样”位置。仪器自动对参考样采样,且采用当前的数据平均值,供仪器测量含量时使用,这样仪器一直处于等待状态,放入待测样就可以分析。
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