用X射线荧光光谱镀层测厚仪膜厚仪测量复合镀层厚度和成分

用X射线荧光光谱镀层测厚仪EDX8000B膜厚仪测量复合镀层的厚度和成分

随着X 射线荧光(XRF)元素分析膜厚仪的各种进展,不仅提高了定性和定量分析的能力与精度,而且已被用来测量镀层厚度,使原来无法进行无损绝对测量的问题得以解决.

但是,生产中常见的复合镀层厚度的绝对测量,仍未园满解决.

英飞思ESI生产的EDX8000B膜厚仪确立的 XRF 复合镀层计算方法, 能同时测量它们两层的厚度.

该方法基于FP无标样基本参数法算法，能实现最多5层多镀层厚度和成分分析，是理想和可靠的金属镀层测厚仪EDX8000B的适用行业：

PCB行业、紧固件行业、涂层行业、其他行业

金属镀层测厚仪EDX8000B特点：

全新X射线膜厚仪EDX8000B为您带来：新颖的外观、强大的功能、可靠的性能和增强的安全性

1. 优异的分析性能

2.很好的性价比

3. 快速无损地分析珠宝和其他合金

4. 行业认证的技术和可靠性确保每年都带来效益

5.操作简单，只需简单培训

6.大样品台，便于测量大面积样品，如印刷电路板

7. 坚固耐用，最大限度减少停机时间

8.更好的稳定性和长期可靠性

9.全新外观设计

10. 延长工作寿命

11. 新的安全功能，确保数据的完整性

12.定时“自动锁机"功能

13.防止未经授权的操作

14. 改进报告功能

15. 与 Microsoft Excel 链接

膜厚仪金属镀层测厚仪EDX8000B规格：

1、元素分析范围：Mg12~U92

2、分析镀层数量和元素数量：5个镀层+基材，最多可同时分析25个元素

3、X射线激发：50W（50kV和1.0mA）微焦点型钨靶X射线管

4、X射线探测器：SDD高分辨率硅漂移探测器

5.准直器：单准直器或多准直器（最多8个）配置

6. 二级滤光片：最多可配置 7个过滤光片（Al、Mo 和 Cu）用于重叠 X 射线光谱校正

7、数字脉冲处理器：4096多路数字分析仪，自动信号处理，具有死区时间校正和抗脉冲积累功能

下面是镀层测厚仪EDX8000B应用于铁基体表面电镀镍后再电镀金的谱图