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XRF荧光光谱仪快速测定硅锰、硅铁合金中硅锰磷硫含量

更新时间:2022-11-02      点击次数:759

X射线荧光光谱仪EDX9000B快速测定硅锰、硅铁合金中硅锰磷硫含量

EDX9000B型 X-射线荧光能谱合金分析仪是一种高性能的多元素同时分析系统。

元素分析范围:Na – U, 可满足多种样品类型,如固体,液体,块状,薄膜等。测量的浓度动态范围从ppm – 100%. 可适合多基体,多元素同时分析。 8位滤光片可满足设置多种分析条件,优化分析方法。仪器采用高分辨率SDD检测器,针对痕量元素具有超高探测灵敏度。优化输出的数字脉冲处理器DPP分析器,与用户友好的界面互动,极低的运行和维护费用。


英飞思开发了用XRF压片法样品制备配合EDX9000B光谱仪测定硅锰和硅铁合金中Si、Mn、P、S的试验方法,分析其准确度和精密度。提高了经济效益和社会效益,并将分析结果与国家标准分析结果进行比对,结果证明EDX9000B真空型X射线能量色散荧光光谱合金分析仪满足生产和质量控制需求,符合客户预期。

硅锰中 Si, P, Mn, S 的 ED-XRF9000B型合金分析仪 分析测试结果和谱图如下

硅锰中 Si, P, Mn, S 的 ED-XRF 分析.jpg


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