欢迎来到苏州英飞思科学仪器有限公司网站!
咨询热线

18962188051

当前位置:首页  >  技术文章  >  XRF分析测厚仪在金属薄膜镀层厚度和成分分析的应用

XRF分析测厚仪在金属薄膜镀层厚度和成分分析的应用

更新时间:2022-10-11      点击次数:526

X射线测厚仪EDX8000B---金属薄膜镀层厚度和成分分析


EDX8000B镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域

技术指标

多镀层分析,1~5层;

测试精度:0.001 μm;

元素分析范围从铝(Al)到铀(U);

测量时间:10~30秒;

SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;

探测器Be窗0.5mil(12.7μm);

微焦X射线管50kV/1mA,铑靶;

8个准直器及多个滤光片自动切换;

高清CCD摄像头(500万像素),准确监控位置;

多变量非线性去卷积曲线拟合;

高性能FP无标样分析软件;

测厚仪,专业表面处理检测解决方案:EDX8000BX射线测厚仪,专用于检测各种异形件,特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。


xrf光谱图


苏州英飞思科学仪器有限公司
  • 联系人:张经理
  • 地址:江苏省苏州工业园区唯新路69号一能科技园2幢407
  • 邮箱:sales@esi-xrf.com
  • 传真:
关注我们

欢迎您加我微信了解更多信息

扫一扫
联系我们
版权所有©2024苏州英飞思科学仪器有限公司All Rights Reserved    备案号:苏ICP备2021018034号-2    sitemap.xml    总流量:123339
管理登陆    技术支持:化工仪器网