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XRF荧光光谱测金仪的基本原理

更新时间:2022-09-30      点击次数:1090

XRF荧光光谱测金仪EDX6000的基本原理


X 射线荧光 (XRF) 测金仪EDX6000是一种诊断性无损检测技术,可用于检测和测量物质中元素的浓度。荧光是现象吸收入射辐射并将其重新辐射为低能量辐射。一个荧光的例子是“T"衬衫,当暴露在隐形环境中时会明显发光的紫外线。某些矿物质会发出荧光;什么时候暴露在紫外线下,它们会发出荧光——发出可见光。在原子尺度上,可见光荧光是由入射的紫外线引起的从原子的外层电子壳中射出低能电子。空缺,留下由射出的电子填充,由从最外层“落入"的电子填充。这个“插入"以某种可见光的形式释放特定量的能量颜色(能量)。

在 X 射线荧光中,同样的原理适用,但传入的能量辐射更高。而不是将物质暴露在紫外线辐射下,观察可见光荧光,将物质暴露在 X 射线下并发出荧光发出较低能量的 X 射线。

在原子尺度上,X 射线荧光是由来自原子最内层电子壳层的高能电子射出的入射 X 射线引起的。留下的空缺射出的电子被从外壳“落入"的电子所填充。这个“插入"会以特征 X 射线的形式释放特定数量的能量。荧光 X 射线的离散能量是能量水平的“特征"元素中的电子壳层。每个元素的这些能级是不同的。因此,通过分析由一个发射器发射的荧光 X 射线光谱的能量,

物质,人们可以确定存在哪些元素,以及它们在物质中的浓度物质。该信息可能足以识别物质。

黄金珠宝首饰检测专家EDX6000测金仪

>仪器参数

仪器外观尺寸: 400mm*405mm*455mm

样品腔:300mm*310mm*104mm

仪器重量: 38 kg

元素分析范围:K19-U92钾到铀

可分析含量范围:1ppm- 99.99%

探测器:AmpTek 高分辨率电制冷硅检测器Si-Pin

多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器

X光管:50W高功率铍窗光管

高压发生装置:电压最大输出50kV,自带电压过载保护

电压:220ACV 50/60HZ

环境温度:-10 °C 到35 °C


仪器配置

>标准配置>可选配置

纯Au初始化标样交流净化稳压电源

戒指样品夹黄金标样

USB数据线

电源线

测试薄膜

仪器出厂和标定报告

保修卡

xrf测金仪

功能强大界面友好的FP测试软件

1.一键测试,客户只需要打开仪器盖子,放入样品,点击‘开始’按钮即可完成测试

2.核心FP算法,使得EDX6000匹配实验室火试金法的测试精度

3.元素含量,黄金K值,测试谱图一目了然

4.一键打印测试报告

5.多点测试功能。客户可以测量样品多个点位,软件自动计算平均值。


及时而专业的售后服务  

>对客户方操作人员进行技术培训

>现场安装、调试、验收服务

>产品终身维修

>免费提供软件升级

>提供高效的技术服务,在接到用户故障信息后,8小时内响应,如有需要,48小时内工程师上门维修和排除故障




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