欢迎来到苏州英飞思科学仪器有限公司网站!
咨询热线

18962188051

当前位置:首页  >  技术文章  >  EDXRF荧光光谱仪测厚仪应用于金属镀层涂层材料成分和厚度分析

EDXRF荧光光谱仪测厚仪应用于金属镀层涂层材料成分和厚度分析

更新时间:2022-09-26      点击次数:425

涂层分析可以告诉你很多关于材料、物品等的内容。简单的例子:可以测量由某种合金制成的细节的含量,而不会对其造成损坏。应用分析的另一种方法是通过测量珠宝来识别有害或过多的杂质和镀金。涂层厚度分析几乎可以应用于重工业和轻工业、建筑、公用事业等的每个领域。

哪些行业必须进行涂层厚度测量?


电镀厚度


由于使用 XRF 8000膜厚仪进行涂层厚度测量可以获得准确的覆盖层元素组成,因此其设备领域众多:


控制生产质量的轻重工业;

需要对金属和合金含量和金属分选进行精确测试的冶金;

油漆和清漆行业:生产中铅浓度分析;

首饰:鉴别首饰中的镀金和其他金属。


至于镀层厚度测试,XRF 分析广泛用于公用事业服务和工业。在大多数情况下,它有助于猜测细节是否满足所需的特征,这在某些领域(例如航空航天建筑)至关重要。

典型的涂层镀层类型有:

· 铁/钢上镀锌;

· 铁/钢镀铬;

· 铁/钢镀镍;

· 铁/钢上镀铜;

· 铜镀金;

· 铜镀镍;


XRF 镀层测厚仪EDX8000B如何测量涂层厚度和材料成分?


顾名思义,XRF 涂层厚度测试仪会发出 X 射线。这些射线使内层用电子射向原子。该过程称为电离。当来自原子涂层内层的电子被弹出而电子不存在时,原子用围绕原子核旋转的外层电子代替它。这种替代会发出所谓的荧光辐射。涂层厚度测量设备感知这种辐射并用它构建光谱。该光谱显示在屏幕上,用户可以在设置该涂层的主要元素时识别该涂层的厚度。 X 射线测厚仪成功地独立于被测物体的形式和条件测量了单组分涂层。


使用 X 射线荧光镀层测厚仪进行涂层测量的好处


自1928年(XRF分析发现年)以来,XRF金属镀层测厚仪设备得到了改进。现在,这是一种非常有用和舒适的厚度分析方法,对用户来说具有特殊的好处:涂层分析不会损坏材料:


无需切割涂层。

EDX8000镀层厚度测试仪是一种多用途的移动工具:它可以分析各种形式和尺寸的物体。

分析本身进行得很快,可以为用户提供非常准确的结果。

尽管有 X 射线应用,但这种测试对用户来说是安全的方法之一。辐射以最小的、无害的量释放,方向与用户正好相反。

X射线荧光分析设备是一种在不停止生产和不损坏被测物品的情况下测试涂层和材料的现代方法。


使用50 瓦 X 射线管的 EDXRF 的穿透深度

XRF可穿透厚度表

镀层材料

基材

Thickness厚度(μm)

Al

Cu

0-100.0

Cd

Fe

0-60.0

Cu

Al

0-30.0

Cu

Fe

0-30.0

Cu

Plastic

0-30.0

Au

Ceramic

0-8.0

Au

Cu/Ni

0-8.0

Pb

Cu/Ni

0-15.0

Ni

Ceramic

0-20.0

Ni

Cu

0-20.0

Ni

Fe

0-20.0

Pd

Ni

0-40.0

Pd-Ni

Ni

0-20.0

Pt

Ti

0-8.0

Rh

Cu/Ni

0-50.0

Ag

Cu/Ni

0-50.0

Sn

Al

0-60.0

Sn

Cu/Ni

0-60.0

Sn-Pb

Cu/Ni

0-25.0

Zn

Fe

0-40.0

01.jpg



苏州英飞思科学仪器有限公司
  • 联系人:张经理
  • 地址:江苏省苏州工业园区唯新路69号一能科技园2幢407
  • 邮箱:sales@esi-xrf.com
  • 传真:
关注我们

欢迎您加我微信了解更多信息

扫一扫
联系我们
版权所有©2024苏州英飞思科学仪器有限公司All Rights Reserved    备案号:苏ICP备2021018034号-2    sitemap.xml    总流量:132548
管理登陆    技术支持:化工仪器网