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X射线荧光光谱仪分析测定碳酸盐岩石中主次痕量元素

更新时间:2022-08-31      点击次数:410

X射线荧光光谱仪EDX9000B分析测定碳酸盐岩石中主次痕量元素

采用粉末样品压片制样,碳酸盐岩石标样及人工合成标样为标准,使用经验系数法及散射线内标法校正元素的吸收增强效应,用X射线光谱仪EDX9000B对碳酸盐岩石试样中的Na,Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Ga,Rb,Sr,Y,Zr,Nb,Ba,Pb,La,Ce和Th等30种主次痕量元素进行测定,其分析结果与标样标准值(或化学法值)符合较好,方法的精密度(RSD,n=10)<10%(除含量在检出限附近的元素外),各元素检出限基本满足化探要求

EDX9000B-x荧光光谱矿产分析仪.jpg


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