XRF涂层测厚仪测量镀层薄膜厚度

什么是镀层？

镀层是指为了好看或储存而在某些物品上的金属表面涂上一层有机物，或者一层稀薄的金属或为仿造某种贵重金属，在普通金属的表面镀上这种贵重金属的薄层。复合镀层的制备是在镀液中加入一种或数种不溶固体颗粒，使固体颗粒与金属离子共沉积的过程，它实际上是一种金属基复合材料。

什么是镀层厚度测试？又有哪些方法呢？

镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。镀层厚度的测试方法主要有金相法、X射线荧光法和扫描电镜测试法等等。

XRF镀层测厚仪俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。

XRF镀层测厚仪EDX8000B：

俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等；

功能：精密测量金属电镀层的厚度；

应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从12(Mg)到92(U)

使用X射线的非接触式厚度测量装置可以使得穿透目标对象的量子X射线的量通过检测器得到检测，或者穿透目标对象的萤光X射线的量得到检测以测量目标对象的厚度。响应于目标对象的材料通过检测器检测的量子X射线的量或萤光X射线的量在吸收系数、密度和厚度上是变化的，其中对照射到X射线目标的以及从X射线目标发射的无需目标对象的量子X射线的量以及照射以穿过目标对象且从X射线目标发射的穿过目标对象的X射线的量 进行相对比较，借此可以通过检查其间的相对差异得知目标对象的厚度。

校准曲线是通过比较由包含在具有基底层以及其上形成有由薄膜层的基底层的参考样本的基底层中的特殊元素散射的信号的强度之间的差异与薄膜层的厚度确定的，并且通过包含于具有基底层的参考样本中的与具有其上形成有薄膜层的基底层的目标样本的基底层中的特定元素散射的信号之间的强度的差异与校准曲线进行比较因而确定了目标样本的薄膜层的厚度。

电镀和无电镀涂层 *检测器技术（例如 SDD、各种模式的多重激发）与强大的分析软件 FPTHICK相结合，可以可靠、准确地测量电镀材料的涂层厚度和磷 各种基材上化学镀镍涂层的含量。 XRF膜厚仪EDX8000将所有这些性能特征整合到一台仪器中。

X 射线荧光测厚仪，用于保护和装饰涂层、批量生产的零件和印刷电路板上的手动或自动涂层厚度测量