欢迎来到苏州英飞思科学仪器有限公司网站!
咨询热线

18962188051

当前位置:首页  >  技术文章  >  XRF荧光光谱仪测定分析铁矿石品质---EDX9000B测矿仪

XRF荧光光谱仪测定分析铁矿石品质---EDX9000B测矿仪

更新时间:2022-08-16      点击次数:1176

铁矿石是钢铁工业的重要原料,其品质的好坏直接影响着冶炼产品的质量,因此,对铁矿石品质进行快速,准确的检测是非常重要的.采用XRF分析技术对铁矿石的品质检测具有测量时间短,结果稳定可靠等优点.我们对铁矿石品质的检测展开了XRF分析技术的研究,主要讨论了影响测量精度的各种因素及校正方法,对铁矿石中的氧化矿原矿,混合铁精矿,再磨铁精矿,永磁尾矿等样品作了分析研究.论文取得的主要成果有:

1)从相对标准偏差的公式着手,对XRF分析仪器的精确度做了评价,试验结果为RSD=0.150%;

2)通过对同一铁矿石样品分别进行300s,200s,150s,1350s,120s,105s,95s,85s,75s,65s,55s,45s,35s,25s,15s,10s和5s的重复测试,评价了不同测量时间下XRF分析仪RSD值的趋势,得出EDX9000B高精度XRF快速分析仪在外部条件较稳定的情况下,最佳测量时间为200s;

3)通过对"谱漂"的理论研究和数学模型的建立,从解谱软件中的谱峰面积处理着手,将Fe的Kα峰面积与Kβ峰面积(即总峰面积)代替Kα峰面积,有效地解决了因"谱漂"而产生的计数率变化的问题;

如下是铁矿石实测谱图

产品特点

1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高灵敏度、高精度分析

2.可同时分析40种元素

3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术

4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率

5.超高记数数字多道电路设计,双真空抽速机构,真空度自动稳定系统

6.标配基本参数法软件,多任务,多窗口操作

7.薄膜滤光片技术,有效提高轻元素检出限

矿产元素检测专家EDX9000B Plus

>仪器参数

仪器外观尺寸565mm*385mm*415mm

超大样品腔:465mm*330mm*110mm

半封闭样品腔(抽真空时):Φ150mm×75mm

仪器重量: 48Kg

元素分析范围:Na11-U92钠到铀

可分析含量范围:1ppm- 99.99%

探测器:AmpTek 超高分辨率电制冷Fast SDD硅漂移检测器

探测器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV

处理器类型:全数字化DP-5分析器

谱总通道数:4096

X光管:高功率50瓦光管(进口管芯),冷却方式:硅脂冷却

光管窗口材料:铍窗

准直器:多达8种选择,最小0.2mm

滤光片:7种滤光片的自由选择和切换

高压发生装置:原装美国高压,电压输出:0-50kV;输出电流:0-1mA

高压参数:最小5kv可控调节,自带电压过载保护,输出精度:0.01%

样品观察系统:500万像素高清CCD摄像头

电压:220ACV 50/60HZ

环境温度:-10 °35 °C



苏州英飞思科学仪器有限公司
  • 联系人:张经理
  • 地址:江苏省苏州工业园区唯新路69号一能科技园2幢407
  • 邮箱:sales@esi-xrf.com
  • 传真:
关注我们

欢迎您加我微信了解更多信息

扫一扫
联系我们
版权所有©2024苏州英飞思科学仪器有限公司All Rights Reserved    备案号:苏ICP备2021018034号-2    sitemap.xml    总流量:122975
管理登陆    技术支持:化工仪器网